Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器

無損檢測（NDT）

Varex提供從工業(yè)X射線管到線性加速器，從工業(yè)平板探測器到成像軟件的無損檢測（NDT）解決方案。

非破壞性測試（也稱為非破壞性成像（NDI））是一種成像分析，涵蓋了廣泛的應(yīng)用程序，可在不破壞材料本身的情況下評估材料的性能。 要求無損檢測的一些應(yīng)用包括：

• 鑄造檢查
• 焊接和管道成像
• 電子檢查

我們種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為無損檢測應(yīng)用提供了廣泛的目標角度，焦點和功率功能。 對于需要不同參數(shù)和高分辨率成像的檢查操作，Varex提供了具有小焦點的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹（Be）的X射線管，用于低固有過濾。 這項技術(shù)可幫助專業(yè)人士分析管道和其他工業(yè)結(jié)構(gòu)的完整性，而不會損壞所討論的材料或系統(tǒng)。

Varex工業(yè)平板探測器還設(shè)計用于滿足廣泛的非破壞性測試應(yīng)用。 通過提供各種尺寸的產(chǎn)品，我們的檢測器有助于防止幾何變形并*地減小磁場和輻射的影響。 我們的探測器技術(shù)使我們的客戶能夠利用的數(shù)字圖像質(zhì)量，高通量和CT功能。 這些檢測器可在整個視場中呈現(xiàn)均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術(shù)人員可以拍攝更高質(zhì)量的圖像。 由于我們的平板檢測器可以捕獲數(shù)字圖像并消除膠片需求，因此可以在更短的時間內(nèi)捕獲更多圖像。

如果您的非破壞性測試需求要求您對需要更高能量的大型結(jié)構(gòu)進行成像，那么我們的線性加速器是一種出色的解決方案，可幫助您對像火箭和其他航空航天產(chǎn)品一樣大的物體成像。

滿足您的無損檢測需求的成像解決方案

工業(yè)X射線管

工業(yè)平板探測器

直線加速器

計量與材料科學(xué)

材料科學(xué)和計量X射線系統(tǒng)提供了用于制造各種組件的測量解決方案，從微型和宏觀零件到大型發(fā)動機和風(fēng)力渦輪機，都變得更加堅固，安全和節(jié)能。

什么是材料科學(xué)？ 從原子尺度看材料的結(jié)構(gòu)并進行直接的結(jié)構(gòu)測量。 有多種測量材料的X射線方法-包括計量，熒光，衍射和晶體學(xué)。 計量是指獲取一組組件的CT圖像以對其進行測量，對組件進行大量測試（例如應(yīng)力，熱循環(huán)和濕度），然后獲取另一組CT圖像并分析變化的過程。 X射線衍射和晶體學(xué)用于鑒定材料的原子特性。 X射線被晶體中原子的規(guī)則三維排列衍射，然后通過成像板或檢測器記錄所得的衍射圖樣。 從衍射圖樣可以診斷出它是一種特殊的材料。 將衍射圖與計算機數(shù)據(jù)庫中的衍射圖進行比較，以找到匹配結(jié)果。 XRF（X射線熒光）是一種無損分析技術(shù)，用于確定材料的元素組成。 XRF分析儀通過測量樣品在一次X射線源激發(fā)下發(fā)出的熒光（或二次）X射線來確定樣品的化學(xué)性質(zhì)。 它用于測試金屬和涂層的厚度。

從科學(xué)研究到工業(yè)質(zhì)量控制（例如：航空航天業(yè)的渦輪機鑄件質(zhì)量檢查），我們的X射線組件都增強了測量技術(shù)，可確保在需要高精度的任何地方達到高質(zhì)量標準。 和他們的：

• 高動態(tài)范圍和對比度
• 高飽和劑量
• 低劑量時具有高靈敏度和對比度
• CMOS檢測器的高速和低延遲
• 低噪聲
• 能量范圍廣，目標材料不同
• Varex Imaging X射線平板探測器和顯像管為許多科學(xué)X射線應(yīng)用提供了明顯的優(yōu)勢。

滿足您的材料科學(xué)需求的成像解決方案

工業(yè)平板探測器

工業(yè)X射線管

Dexela 1313數(shù)字射線平板探測器